Universal BJT, JFET, MOSFET Tester Circuit

Ang kapaki-pakinabang na transistor tester na ito ay nagbibigay-daan sa gumagamit na mabilis na suriin ang pagpapaandar ng isang NPN / PNP transistor, JFET o (V) MOSFET pati na rin matukoy ang oryentasyon ng kanilang mga terminal, o ang mga pin na naaangkop.

Ang isang three-pin BJT o FET ay nagbibigay ng isang pangkalahatang 6 posible na magkakaugnay na mga pagsasaayos, subalit ang isang solong ay malamang na maging tama.

Ang unibersal na transistor tester circuit na ito ay nag-aalok ng isang madali at walang katotohanan na pagkilala sa naaangkop na pagsasaayos ng transistor pati na rin lumilikha ng isang praktikal na pagsusuri ng transistor nang sabay-sabay.

Paano Gumagana ang Circuit

Ang tester circuit sa sarili nitong may kasamang isang transistor na sama-sama sa transistor-under-test (TUT) na bumubuo ng isang astable multivibrator circuit

Nagtatampok ang tester ng 5 mga puwang sa pagsubok na malapit sa bawat isa, na tinutukoy ng kani-kanilang label:

E / S - B / G - C / D - E / S - B / G
Ginagawang posible ng pag-aayos na ito para sa mga ipinakitang aparato sa ibaba upang suriin sa pamamagitan ng mga nabanggit na pagsasaayos:
• Bipolar Transistors: EBC / BCE / CEB, at baligtad: BEC / ECB / CBE.
• Unipolar Transistors (FETs): SGD / GDS / DSG, at baligtad: GSD / SDG / DGS.

Ang astable multivibrator yugto ng circuit ay nag-oscillate at kumikislap ng isang maliwanag puting LED (Larawan 1) tuwing ang transistor sa ilalim ng pagsubok ay konektado sa tamang paraan. Maaari ding mag-flash ang LED kung ang E at C na mga pin ng transistor ay napalitan, subalit ang bilis ng pagkurap ay magiging mas mabilis.

Ipinapakita nito ang katotohanan na ang ilang mga pagkakaiba-iba ng BJTs ay maaaring gumana kahit na ang kanilang emitter at kolektor ay humantong palitan kahit na may isang katangian ng pagganap na maaaring mas mababa kaysa sa normal na pagsasaayos.

Pagsubok ng mga JFET

Habang sumusubok JFETs pagkakaroon ng isang simetriko na mapagkukunan at istraktura ng alisan ng tubig, maaaring posible lamang na makilala ang pin ng gate na may anumang antas ng katiyakan, at ang mapagkukunan at alisan ng mga pin ay maaaring palitan.

Ang paglaban ng pagkarga ng transistor-under-test ay itinayo tulad ng isang potensyal na divider circuit na may kalahati ng boltahe ng suplay sa pamamagitan ng paggamit ng resistors R3 / R4. Pinapayagan nito ang isang ordinaryong switch (S1) upang magpalit mula sa N (PN) patungong P (NP).

Paggamit ng isang Tagapagpahiwatig ng LED

SA kumikislap na LED Ipinapakita ang tamang pagpoposisyon ng aparato sa ilalim ng pagsubok! Kung ang LED ay mananatiling nakasara o nananatiling ON na patuloy na nagpapahiwatig ng isang maling pagsasaayos o patay, hinipan ng BJT.

Ang sitwasyong ito ay maaaring karagdagang ipahiwatig na ang yunit na nasubok ay maaaring hindi lamang isang transistor.

Ang item ay maaaring, halimbawa, ay isang 3-pin boltahe regulator, isang SCR o isang triac at iba pa.

Paggamit ng isang Tagapahiwatig ng Buzzer

Ang susunod na variant ng unibersal na transistor tester na ipinakita sa pigura sa ibaba ay gumagamit ng a piezo buzzer sa halip na ang tagapagpahiwatig ng LED. Ang dalas na tumutukoy sa halaga ng capacitor sa disenyo na ito ay maaaring makita na mas mababa kumpara sa bersyon ng LED upang madagdagan ang dalas ng osilasyon at gawin itong maririnig.

Ang isang mababang tunog ng tunog ng paghiging mula sa buzzer ay nangangahulugan na ang transistor ay maayos na naipasok at perpektong ginagawa ang trabaho.
Kung walang tunog mula sa buzzer ay nagpapahiwatig na ang BJT o ang FET sa ilalim ng pagsubok ay alinman sa mali na naipasok o maaari itong ganap na patay.

Pinapayagan ka ng pindutan ng push na ilipat ang circuit at suriin nang sabay-sabay ang transistor sa sandaling naka-hook up ito. Ang buong circuit ay maaaring nang walang anumang paghihirap na mapaunlakan sa isang maliit na piraso ng veroboard. Ang suplay ng kuryente ay maaaring makuha mula sa isang karaniwang 9 V PP3 na baterya.